本文源自:市场资讯

国家知识产权局信息显示，深圳中科飞测科技股份有限公司申请一项名为“集光系统及有图形待检测对象的光学缺陷检测系统”的专利，公开号CN121026972A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本申请实施例公开了一种集光系统，包括：前透镜组、后透镜组和镜筒，前、后透镜组分别安装于镜筒；掩模，用于实现空间滤波功能，设置于镜筒内，位于前透镜组的光瞳面。同时，本申请实施例中公开了一种有图形待检测对象的光学缺陷检测系统，采用前述的集光系统。本申请实施例在原有物镜的成像功能，又同时实现空间滤波，到达后透镜组的背景噪声信号强度已被空间滤波器衰减，则后透镜组引起的残留菲涅尔反射光信号显著减弱到可以忽略的程度；因此有效降低了通过集光系统的残留菲尼尔反射光强度总量，从而提升图像中缺陷信号相对于背景信号的信噪比，改善了光学缺陷检测系统对散射信号较弱缺陷的漏检率，提高系统的检测质量。

天眼查资料显示，深圳中科飞测科技股份有限公司，成立于2014年，位于深圳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本32000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳中科飞测科技股份有限公司共对外投资了12家企业，参与招投标项目268次，财产线索方面有商标信息255条，专利信息1057条，此外企业还拥有行政许可40个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。